数字源表IV扫描光耦/mos静态电特性参数

教学仪器老旧，故障率高，精度低，可重复性差；
教学专用型仪表，功能单一，仪表复用率低，实验室占地面积大；
实验仪表台数少，导致实验课周期过长，与理论课的时间兼容性差；
操作傻瓜，对学生的动手操作能力培养意义不大；
个别实验内容已被时代淘汰，无法满足现阶段集成电路人才培养的需求；

数字源表IV扫描光耦/mos静态电特性参数认准生产厂家武汉普赛斯仪表，详询一八一四零六六三四七六；普赛斯仪表实验平台是以工程教育专业认证为引领参与高校专业建设，以信息化引领构建学习者为中心的教育生态，培养集成电路硬件测试人才。为学生提供丰富的教学资源以及贴近现实的产业环境，支撑集成电路相关课程的教学与实训，且能进行项目开发和师资培训，打造集成电路人才培养实践中心，以培养高层次的工程实践能力强的毕业生，提高院校整体教学实力；

平台特色：

基于高精度通用仪表的微电子综合实验平台，提供多种实验测量环境；

采用一体化设计，集成了数字源表、LCR电桥、万用表、示波器等通用仪表；

贴合集成电路测试相关实验案例，支撑集成电路相关课程资源和理论教学；

全国产化仪表，符合当前国家政策，进口仪表有禁运风险； 

搭配丰富的测试夹具及实验教材，满足基础实验教学需求；

测试器件采用STO封装，即插即用，方便更换;

测试设备简单易用，接线简单，方便学生动手操作；

以基础平台为起点，可逐步升级，满足日益增加的实验室测试需求；

辅助老师编写教案，提高教学效率，降低课程开发的难度；