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概述：
A200型IGBT动态测试数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。详询一八一四零六六三四七六；
采集卡采用高性能ADC芯片，分辨率可达10bits，z高支持2.5G/s采样率。单采集卡支持2通道。采集卡可应用于我司3插卡或10插卡主机上，单主机z高支持20通道。
产品具有采样速度快，分辨率高，支持多种触发、大容量高速数据存储等特点，因此，可广泛应用于各类型实时波形捕获、IGBT动态测试，以及其他工业场景等数据采集。
产品特点：
插卡式设计，2通道/插卡，z高支持20通道
10位A/D分辨率
支持高速率采样，z高可达2.5G/s采样率
支持大容量数据存储
采集精度高，多电压量程
软件兼容性广，支持Labview，C/C++等
应用领域：
各类型实时波形捕获、IGBT动态测试，以及其他工业场景等数据采集
技术参数：
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项目 |
技术指标 |
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单卡通道数 |
2个模拟通道+1个外部触发通道 |
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ADC分辨率 |
10bits |
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z高采样率 |
2.5GS/s |
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带宽 |
500MHz |
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存储深度 |
128MB |
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耦合模式 |
AC、DC |
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增益模式 |
10X(放大)：-250mV~+250mV |
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1X(放大)：-800mV~+800mV |
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-5X(衰减)：-1000mV~+1000mV |
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触发源 |
内触发、外触发 |
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触发模式 |
上升沿、下降沿、高电平、低电平等 |
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阻抗模式 |
HIGH(1MΩ)、LOW(50Ω) |
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单卡尺寸 |
40mm长*410mm宽*264mm高 |
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通信接口 |
LAN |
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主机箱输入电源 |
AC;100～240V、50/60Hz |
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工作温度 |
0～50℃ |
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存储温度 |
-20～80℃ |
联系我们：
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网站：http://www.whpssins.com
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普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段，实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析。如果您对普赛斯功率半导体器件静态参数测试方案和国产化高精度源表感兴趣，欢迎随时联系我们！
