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SPA6100国产半导体参数测试仪iv和cv曲线分析仪配置有多种不同规格的SMU，如低压直流SMU、低压脉冲SMU、大电流SMU；用户可根据测试需求灵活配置不同规格，以及不同数量的搭配。详询一八一四零六六三四七六
产品特点：
30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力；
测量精度高,全量程下可达0.03%精度；
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便；
自动实时参数提取，数据绘图、分析函数；
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线；
免费提供上位机软件及SCPI指令集；
典型应用：
纳米、柔性等材料特性分析；
二极管；
MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；
第三代半导体材料/器件；
有机OFET器件；
LED、OLED、光电器件；
半导体电阻式等传感器；
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；
电阻率系数和霍尔效应测量；
太阳能电池；
非易失性存储设备；
失效分析；
提供灵活的夹具定制方案，兼容性强；
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