TXRF(全反射X荧光)

TXRF(全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。
TX2000 将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，角度测量，软件控制Mo/W靶可切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。
应用范围
TX2000 可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量，可进行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg)，广泛的应用在环境分析(水、灰尘、沉积物、大气悬浮物)，制药分析(生物体液和组织样品中的有害元素)，法医学(微小证据分析)，化学纯度分析(酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂)，油品分析(原油、轻质油、燃料油)，染料分析(墨水、油漆、粉末)，半导体材料分析，核材料工业(放射性元素分析)。
TXRF详情：http://www.leemanchina.cn/Products-19374852.html
https://www.chem17.com/st284199/list_1085975.html