纳米粒度仪

　　CPS纳米粒度仪有别于传统方法，通过差示离心沉降原理为颗粒的精细区分提供新的解决方案
这种原理有以下几点优势：
分辨率高：
同激光散射和颗粒计数法等方法比较，该方法有非常高的分辨率。对于只有1%的颗粒差异分布的时候，该方法测定的结果仍然有好的分离效果。您能看到的是颗粒分布本身，而不是分布颗粒的混合图。
灵敏度高：
低至10-8g的样品就可以满足日常分析需要。
重复性高：
样品结果在95%的典型置信度下，连续重复分析峰的重复性小于+/-1%或更好。
快速、高精度数模(A/D)转换:
可用信号分辨率(即软件操作的对象)决定于数模转换的过程。CPS系统使用的数模转换可以实现在每秒31次取样时保持20位以上的精度，几百万分之一的误差。
CPS高精度纳米粒度仪的技术优势
CPS纳米粒度仪分辨率很高，它有效地结合了高速离心沉降(ZG24000转/分)和激光法的优点，使得整个仪器能够达到*的分辨率，优良的灵敏度和重复性.
同激光散射和颗粒计数法比较，该方法有非常高的分辨率，能够轻松鉴别杂质颗粒，污染颗粒或者外来颗粒。半峰宽为峰值粒度1%，也就是说对于峰值差异只有1%的相邻粒度两个粒度峰，该仪器都可以有效地检测并区分开来。仪器的分辨率如此高，得到的颗粒分布几乎不受仪器的影响，测量终得到的是真实、可靠的颗粒分布。
纳米粒度仪
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