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数字源表IV测试IC芯片开路电压短路电流等电性能参数
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤,是使用特定仪器,通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测,区别缺
2024-08-09 09:56
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生物工程发酵罐的结构组成
生物发酵罐,是指发酵的整个过程、整个系统全部采用自动化控制的发酵罐,程序和手机,电脑联动,对成熟工艺进行智能化控制,
2024-08-08 11:11
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大功率分立器件测试设备
半导体分立器件特性参数测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应;通常半导体分立器件特性参数测试
2024-08-06 13:25
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脉冲恒流电源1000A大电流源
脉冲恒流电源1000A大电流源技术指标电流脉宽 50μs~500μs脉冲电流上升沿时间典型时间15us输出脉冲电流5~1000A量程,精度0.1%FS
2024-08-01 13:59
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电阻式传感器IV电性能分析数字源表
电阻式传感器IV电性能分析数字源表解决方案实时测试多种材料在同-环境条件下的电阻值的反应灵敏;在低电压下进行下高范围跨度(Q、
2024-07-30 15:28
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半导体器件参数测试仪iv曲线扫描仪
半导体器件参数测试仪iv曲线扫描仪优势:IV、CV一键测;一体机,支持远程指令控制;支持三同轴接探针台能够覆盖从材料、晶圆、器
2024-07-25 10:05
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功率半导体参数测试仪高电压大电流测试
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备,产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数
2024-07-23 13:46
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半导体静态参数测试仪and半导体器件功率分析仪
普赛斯以自主研发为导向,深耕半导体测试领域,在I-V测试上积累了丰富的经验,先后推出了直流源表,脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲
2024-07-15 15:45
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BYK4775雾影仪自我诊断和封闭的光路
德国BYK4775透射雾影仪i,雾度计优势1、透视观察的客观标准当光线透过透明产品发生散射行为时,会产生混浊或模糊不清的外观
2024-07-15 09:51
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半导体电学参数测试设备iv+cv曲线扫描仪
半导体电学参数测试设备iv+cv曲线扫描仪概述:SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测
2024-07-10 13:35
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纳米水伏发电材料性能测试数字源表
纳米发电机是基于规则的氧化纳米线,在纳米范围内将机械能、热能等转化为电能,是世界上z小的发电机。目前主要包括:摩擦纳米发电
2024-07-08 13:50
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霍尔传感器响应时间测试大电流源
HCPL100霍尔传感器响应时间测试大电流源特点和优势: 50~500us的脉冲宽度连续可调; 15us的超快上升沿; 同步测量电压; 单台z大
2024-07-05 13:25
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单管igbt测试设备参数分析仪
SPA-6100单管igbt测试设备参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快
2024-06-27 14:06
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肉嫩度仪的性能特点
肉嫩度仪是模拟人的牙齿对肌肉及各种食品的咀嚼作用,测量肌肉与食品试样的剪切值,并数值显示测量结果,表达食品的嫩度。主
2024-06-27 11:34
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半导体器件功率分析仪功率器件测试设备
普赛斯功率器件静态参数测试系统,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性
2024-06-24 13:49
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ic芯片电性能测试数字源表
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤,是使用特定仪器,通过对待测器件DUT(DeviceUnderTest)的检测,区别缺
2024-06-21 09:30
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高电流脉冲电源脉宽50μs-500μs连续可调
高电流脉冲电源脉宽50μs-500μs连续可调特点50μs-500μs的脉冲宽度连续可调15μs超快上升沿(典型时间)两路同步测量电压0.3mV
2024-06-19 14:22
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mos分立器件测试方案iv+cv电性能分析
MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体 器 件,可 以 广 泛 应 用 在 模 拟
2024-06-12 09:19
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二极管CV测试系统CV测试机
概述 电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面,尤其是MOSCAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压
2024-06-07 13:23
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数字源表测试电阻式传感器IV电性能方案
利用普赛斯数字源表SMU灵活进行电阻测量实时测试多种材料在同-环境条件下的电阻值的反应灵敏;在低电压下进行下高范围跨度(Q、KQ
2024-06-04 14:23
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